设备厂家：
Nanobase
型号：
XperRam S Series
仪器说明：
XperRam S Series 用于评估 TFT 器件在光照条件下的光电性能。该系统通过测量晶体管在不同光强度下的光电流变化，分析器件的光响应特性，并生成光电流分布的成像图，帮助研人员直观了解光电流的分布情况。这种系统不仅能精确记录 TFT 在光照下的电流响应，还能够通过成像展示整个器件的光电行为，便于分析局部光敏特性。其测试过程不破坏样品，并能结合多种环境参数（如光强、温度、偏压）对器件进行综合分析。利用显微成像扫描技术，对样品表面做一个快速扫描。产生的光电流信号通过探针引到电流源表，再显示在软件界面，做成成像图显示样品表面电流分布。
